硬X射线台式吸收精细结构谱仪（RapidXAFS）只能在各个同步辐射光源上测试。由于光源机时有限，无法满足众多科研工作者的测试需求。而近些年，XAFS数据已成为了顶级期刊的“标配”，致使越来越多课题组需要XAFS测试。

X射线发射光谱仪（XEScope）是一款专业的化学态和电子轨道分析利器，专注于材料近表面中元素的价态和轨道结构解析。凭借超高灵敏度与智能化的操作流程，它将成为能源材料、催化科学、环境化学等领域研究者值得信赖的表征工具。

RapidXAFS 2D Ultra专为高效率、多元素同步分析而设计，是面向同步辐射级实验室与工业表征的新一代XAFS系统。通过光通量、运动精度、测试模式三大核心突破，实现双元素原位同步测试，将科研与工业检测效率提升至全新高度。

台式XAFS不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究。

RapidXAFS HEX射线吸收谱仪是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

桌面XAFS测试对样品无破坏，在大气环境下测试，可进行原位测试；不受样品状态影响，可测量固体(晶体、粉末)，液体(溶液、熔融态)和气体等。