X射线发射光谱仪

X射线发射光谱仪（XEScope）产品概述

XEScope是一款专业的化学态和电子轨道分析利器，专注于材料近表面中元素的价态和轨道结构解析。凭借超高灵敏度与智能化的操作流程，它将成为能源材料、催化科学、环境化学等领域研究者值得信赖的表征工具。

Na2S2O3的S Kα光谱中反应了S元素是由-2价和+6价以1：1的比例存在，直观体现精准的价态分辨能力

核心优势

1.超高灵敏度：可检测低至0.1 wt%的成分，适用于痕量元素分析；

2.元素范围广：可以实现Al~U元素的超广元素分析能力；

3.化学价态分辨能力：精准区分同一元素的不同价态，如Si²⁺/Si⁴⁺；

4.物种比例定量分析：可建立自研体系数据库，进行物种比例定量拟合；

5.支持原位测试：无需XPS的超高真空，可以在一个大气压下进行真正的原位测试，实时监测材料在反应过程中的化学态变化。

技术原理

X射线发射光谱仪技术特点

1.宽能量覆盖：1.2 keV–9 keV能量范围，满足从Al~U的广泛元素分析；

2.一键式操作流程：从测试设置到数据解析，简化操作步骤，降低使用门槛；

3.批量处理：支持多组样品批量检测与标准化报告输出。

测试数据

1.化学位移判定价态

2.低含量测试

3.价态占比分析

典型应用场景

适用样品类型

无需复杂前处理，直接上机测试

●固体（块、片）

●液体（溶液、乳液）

●粉末

●微量样品（≥5 mg）

●低含量样品（≥0.1 wt%）