发射谱XES是一种重要的分析技术，主要用于研究材料的电子结构和化学性质。硬X射线具有较高的能量，能够深入样品内部，使XES成为探测材料深层信息的强有力工具。

RapidXAFS 2M吸收谱XAFS是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

RapidXAFS 1M台式X射线吸收谱仪是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具，广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。

X射线吸收精细结构谱RapidXAFS只能在各个同步辐射光源上测试。由于光源机时有限，无法满足众多科研工作者的测试需求。而近些年，XAFS数据已成为了顶级期刊的“标配”，致使越来越多课题组需要XAFS测试。