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产品简介
Sinospec S50 高辉度全自动单晶X射线衍射仪(XRD)面向微小晶体、弱衍射晶体及复杂结构样品,采用四圆Kappa测角仪和光子计数面探测器,支持晶体定位、数据采集、结构解析与精修。可配置低温与变温系统,用于有机化合物、配位化合物、药物分子及功能材料的晶体结构研究。
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Sinospec S50 高辉度全自动单晶X射线衍射仪(XRD)
仪器面向高校、科研院所及材料研发实验室,适用于微小晶体、弱衍射晶体、复杂配位化合物及其他结构解析难度较高的样品。通过单晶衍射数据采集、结构解析与精修,可获得晶胞参数、空间群、原子坐标、占有率、键长和键角等信息,为分子构型、构象及分子间相互作用研究提供结构依据。
一、微焦斑光源与聚焦光学
采用微焦斑X射线光源与多层膜聚焦光学系统,将有效X射线光子汇聚至晶体测量区域,有助于采集微小晶体及弱衍射样品的衍射信号。可根据样品组成与实验需求选择铜靶或钼靶,具体光源形式以供货配置为准。
二、四圆Kappa测角系统
四圆Kappa测角仪通过四轴联动调整晶体在三维空间中的取向,可从不同角度采集衍射数据,优化采集策略并减少机械遮挡。测角仪与探测器协同控制,为数据完整性、冗余度和后续吸收校正提供测量基础。
三、光子计数面探测器
画册列出的典型探测器配置为DECTRIS EIGER2 R 500K,具有约53万像素、75微米像素尺寸和约77毫米 × 38毫米的有效探测面积。光子计数及能量阈值技术可用于实验室单晶衍射数据采集,记录用于后续积分、还原与结构解析的衍射图像。
四、数据采集与结构解析流程
软件支持晶体定位与衍射预检查、自动寻峰、晶胞确定和数据采集策略计算。采集完成后,可开展数据积分、还原、合并、吸收校正及数据质量评估,并通过倒易空间三维可视化辅助检查数据。软件同时支持结构解析、精修和结果输出,衔接从衍射图像到晶体结构模型的分析流程。
五、低温与变温研究
**Sinospec S50 高辉度全自动单晶X射线衍射仪(XRD)**可配置液氮低温吹扫系统,画册所列典型温度范围约为80–500 K。通过在不同温度下采集衍射数据,可比较晶胞参数及结构变化,用于低温结构测定、温度相关相变和变温晶体学研究。
六、典型应用与技术服务
仪器可用于有机与无机化合物、金属有机配位化合物、药物分子及晶型研究,也适用于具备单晶测量条件的沸石、多孔材料、矿物晶体和无机固体。可提供设备安装调试、性能验收、操作与数据分析培训,以及远程诊断和现场技术支持。具体光源、探测器、温控附件及服务范围以双方确认的技术协议为准。