台式XRD

Sinospec D10 台式高功率原位粉末X射线衍射仪（XRD）

仪器面向高校、科研院所、公共测试平台及企业材料研发实验室，在紧凑的台式结构中集成高功率X射线光源、θ/θ测角系统和能量分辨探测器，可结合不同光学配置及原位附件，开展粉末物相分析、定量分析、薄膜表征与动态结构研究。

一、高功率光源配置

可根据实验需求配置600–1600 W级X射线光源。较高的入射光子通量有助于改善低含量物相、低结晶度样品及弱衍射峰的信号质量，并缩短常规扫描时间，为变温、相变、催化反应及电池充放电等动态实验提供数据采集支持。

二、θ/θ测量几何

测量时，光源与探测器围绕样品协同运动，样品可保持水平和相对静止。这种结构有助于减少扫描对液体、浆料、疏松粉末及原位反应池的扰动，便于在高温、低温、受控气氛、吸附和电化学环境中开展衍射实验。

三、能量分辨探测系统

仪器可配置一维或二维能量分辨探测系统。对于含铁、钴、镍、锰等元素的材料，可通过能量阈值筛选抑制部分荧光背景，改善峰背比，为弱峰识别、物相定量和结构精修提供数据支持。

四、多种测量模式

可开展常规粉末反射衍射和低角度粉末衍射，并按配置扩展毛细管或薄片透射衍射、掠入射X射线衍射（GIXRD）及X射线反射率（XRR）测试。透射几何有利于低角度数据采集，并可在部分样品中降低择优取向影响。掠入射模式可增强表面或薄膜层的衍射贡献，反射率测试可用于分析膜厚、密度及界面粗糙度。

五、多环境原位研究

**Sinospec D10 台式高功率原位粉末X射线衍射仪（XRD）**可选配高温、低温、受控气氛、吸附及电池原位附件，跟踪材料在升降温、气固反应、催化及充放电过程中的物相演变，帮助研究实验条件与结构变化之间的关系。

六、应用与技术服务

仪器适用于电极材料、固态电解质、催化剂及薄膜材料的结构表征，也可用于陶瓷、矿物、水泥等粉末样品的物相鉴定与定量分析。可提供设备安装调试、性能验收、操作与数据分析培训、原位附件应用支持，以及远程诊断和现场技术支持。具体光源、探测器、附件及服务范围以双方确认的技术协议为准。