台式高功率原位粉末X射线衍射仪

Sinospec D10 / Panda D10 台式高功率原位粉末X射线衍射仪

本设备面向高校、科研院所、公共测试平台和企业研发实验室，可在同一台式平台上开展粉末物相分析、薄膜表征及多环境原位研究。

一、光源与测角系统

仪器可配置600–1600 W级X射线光源。较高的入射光子通量有助于改善低含量物相、低结晶度样品和弱衍射峰的信号，并缩短常规扫描时间。采用θ/θ测量几何，扫描过程中光源与探测器围绕样品协同运动，样品可保持水平和相对静止，有助于减小对液体、浆料、疏松粉末和原位反应池的扰动。

二、测量模式与探测配置

可开展常规粉末反射衍射和低角度粉末衍射，并按配置扩展毛细管或薄片透射衍射、掠入射X射线衍射（GIXRD）及X射线反射率（XRR）测试。掠入射模式有助于增强薄膜或表面层的衍射信号，反射率测试可用于分析膜厚、密度和界面粗糙度。仪器可配置一维或二维能量分辨探测系统，通过能量阈值筛选抑制部分荧光背景，辅助识别弱衍射峰。

三、原位测试与典型应用

Sinospec D10 / Panda D10 台式高功率原位粉末X射线衍射仪可选配高温、低温、受控气氛、吸附及电池原位附件，根据样品形态和实验条件选择测量模式。

• 新能源材料：分析电极材料和固态电解质的物相，跟踪电极材料在充放电过程中的相变。

• 催化与化工材料：研究催化剂在活化、氧化还原、吸附及气固反应过程中的结构变化。

• 半导体与薄膜材料：通过掠入射衍射分析薄膜物相，通过反射率测试表征膜厚和界面粗糙度。

• 陶瓷、矿物及水泥：对粉末样品开展物相鉴定和定量分析，比较不同处理条件下的物相组成。

四、安装与技术服务

可提供设备安装调试、性能验收、仪器操作与数据分析培训，以及原位附件应用支持。运行期间可提供远程诊断和现场技术支持。光源、探测器、附件及服务范围以双方确认的技术协议为准。