RapidXAFS 2M

RapidXAFS 2M

效率倍增，精度跃升——同步辐射级XAFS实验室解决方案

产品概述

RapidXAFS 2M双束结构，采用单光源双单色器双罗兰圆结构提供双能X射线对样品进行测试，可同时对两个元素的局域结构进行分析，实现过渡金属材料的结构探测、价态分析、以及原位工况下测试。

产品功能

设备集成两种元素光谱测量模式，通过分析元素吸收谱精细结构，获取样品的局域原子结构信息（包括配位数、键长及无序度等）；元素发射光谱分析 —— 测量样品特征发射谱，获得元素的电子结构（自旋信息）及化学价态信息。两种测量模式可在同一设备上切换使用。设备支持原位温控、气氛、电化学等多种操作条件下进行谱图采集，可监测反应过程中的结构与电子变化。

核心优势

●光通量倍增：光通量达常规型号3倍以上，测试更快，信噪比更高；

●运动精度升级：新型高精度罗兰圆结构，定位精度提升4倍，数据更准确稳定；

●智能校准系统：晶体参数全自动校准，测试更智能。

●双束结构：设备采用双束结构，定制单XAFS光源，双单色器双罗兰圆结构提供双能X射线对样品进行测试，可同时对两个元素的局域结构进行分析，实现过渡金属材料的结构探测、价态分析、以及原位工况下测试。

技术特点

无二的创新技术：

1、双光束重合技术：双光束在不同布拉格角下于样品处精准重合，软件可灵活切换元素组合，无需重新配置硬件，便于连续开展不同元素组合的同步测试。；

2、创新光源技术：微通道增强水冷散热能力，阵列化靶材结构增强韧致辐射强度，同功率下实现更强X射线通量。

典型应用场景

●双活性位点同步追踪

●原位反应过程实时监测

●适用于合金、催化剂、半导体材料