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产品简介
Sinospec S50 高辉度全自动单晶X射线衍射仪面向微小晶体、弱衍射晶体及复杂结构样品,采用四圆Kappa测角仪和光子计数面探测器,支持从晶体定位、衍射数据采集到结构解析与精修的工作流程。可配置低温与变温系统,用于有机化合物、配位化合物及功能材料的晶体结构研究。
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Sinospec S50 高辉度全自动单晶X射线衍射仪
本仪器面向高校、科研院所及材料研发实验室的单晶结构测定需求,可用于微小晶体、弱衍射晶体、复杂配位化合物及其他结构解析难度较高的样品。通过单晶衍射数据采集和结构精修,可获得晶胞参数、空间群、原子坐标、占有率、键长和键角等信息,用于研究分子构型、构象和分子间相互作用。
一、微焦斑光源与聚焦光学
仪器采用微焦斑X射线光源与多层膜聚焦光学系统,将有效X射线光子汇聚至晶体测量区域,有助于采集微小晶体和弱衍射样品的衍射信号。可根据样品及实验需求选择铜靶或钼靶配置。
二、四圆Kappa测角与面探测
四圆Kappa测角仪通过四轴联动调整晶体在三维空间中的取向,可从不同角度采集衍射数据,并在制定采集策略时减少机械遮挡。光子计数面探测器支持衍射图像采集,画册所列典型配置为DECTRIS EIGER2 R 500K,像素尺寸为75微米,有效探测面积约为77毫米 × 38毫米。
三、数据采集与结构解析
软件支持晶体定位与衍射预检查、自动寻峰、晶胞确定及数据采集策略计算。采集完成后,可进行衍射数据积分、还原与合并、吸收校正及数据质量评估,并通过倒易空间三维可视化辅助检查衍射数据。软件还支持后续结构解析、精修及结果输出。
四、低温与变温测试
可配置液氮低温吹扫系统,画册列出的典型温度范围约为80–500 K。通过在不同温度下采集单晶衍射数据,可比较晶胞参数和结构变化,用于低温结构测定、温度相关相变及变温晶体学研究。
五、典型应用与技术服务
Sinospec S50 高辉度全自动单晶X射线衍射仪可用于有机与无机化合物结构解析、金属有机配位化合物研究、药物分子及晶型研究,也适用于具备单晶测量条件的沸石、多孔材料和矿物晶体。可提供设备安装调试、性能验收、仪器操作与数据分析培训,以及远程诊断和现场技术支持。具体光源、探测器、温控附件及服务范围以双方确认的技术协议为准。