RapidXAFS 2D Ultra采用双罗兰圆结构设计,可产生双束单色光,可实现光通量成倍增加或者产生两束不同能量的单色光实现2个元素同时测试,进一步提升了实验室型XAFS设备整体性能。从在常规实验室中进行高质量的XAFS测试。
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核心优势
长久以来,X射线吸收精细结构谱(XAFS)只能在各个同步辐射光源上测试。由于光源机时有限,无法满足众多科研工作者的测试需求。而近些年,XAFS数据已成为了顶级期刊的“标配",致使越来越多课题组需要XAFS测试。秉持着让XAFS走进每个实验室的理念,中国科学院高能物理研究所和中国科学技术大学联合推出了全新的X射线吸收精细结构谱仪(RapidXAFS)。
台式XAFS产品优势:
多功能: | 提供科研级高质量XAFS图谱 |
高性能: | 1小时内完成1%含量样品测试 |
能量范围: | 4.5-20 keV,可扩展至205keV |
高光通量: | >4,000,000 photons/sec@7~9 KeV |
测试元素: | 在实现3d,5d,稀土元素过渡金属 XAFS 测试 |
简单易用: | 只需半天培训即可上机操作 |
自主可控: | 90%部件自主可控,无政策风险 |
低维护成本: | 无需专人维护、操作、管理等 |
RapidXAFS具有如下特点:
最高光通量产品
光子通量高于1000000光子/秒/eV-2000000光子/秒/eV,采谱效率数倍于其他产品;获得和同步辐射一样的数据质量
优异的稳定性
光源单色光强度稳定性优于0.1%,重复采集能量漂移<50 meV
1%探测极限
高光通量、优异的光路优化和较好的光源稳定性确保所测元素含量>1%时依旧获得高质量EXAFS数据
仪器原理
X射线吸收精细结构(X-ray absorption fine structure,XAFS),是一种研究材料局域原子或电子结构的有力工具,广泛应用于催化、能源、纳米等热门领域。
台式XAFS主要有以下优点:
1.不依赖于长程有序结构,可用于非晶态材料的研究;
2.不受其它元素干扰,可对同一材料中不同元素分别研究;
3.对样品无破坏,在大气环境下测试,可进行原位测试;
4.不受样品状态影响,可测量固体(晶体、粉末),液体(溶液、熔融态)和气体等;
5.能获得配位原子种类、配位数及原子间距等结构参数,原子间距精确度可达0.01A。